1. ਆਪਟੀਕਲ ਮੈਟਾਲੋਗ੍ਰਾਫਿਕ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਅਤੇ ਐਟਮਿਕ ਫੋਰਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਦਾ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਡਿਜ਼ਾਈਨ, ਸ਼ਕਤੀਸ਼ਾਲੀ ਫੰਕਸ਼ਨ
2. ਇਸ ਵਿੱਚ ਆਪਟੀਕਲ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਅਤੇ ਐਟਮੀ ਫੋਰਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਇਮੇਜਿੰਗ ਫੰਕਸ਼ਨ ਦੋਵੇਂ ਹਨ, ਜੋ ਦੋਵੇਂ ਇੱਕ ਦੂਜੇ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕੀਤੇ ਬਿਨਾਂ ਇੱਕੋ ਸਮੇਂ ਕੰਮ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਨ।
3. ਉਸੇ ਸਮੇਂ, ਇਸ ਵਿੱਚ ਆਪਟੀਕਲ ਦੋ-ਅਯਾਮੀ ਮਾਪ ਅਤੇ ਪਰਮਾਣੂ ਬਲ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਤਿੰਨ-ਅਯਾਮੀ ਮਾਪ ਦੇ ਕਾਰਜ ਹਨ
4. ਲੇਜ਼ਰ ਖੋਜ ਸਿਰ ਅਤੇ ਨਮੂਨਾ ਸਕੈਨਿੰਗ ਪੜਾਅ ਨੂੰ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ, ਢਾਂਚਾ ਬਹੁਤ ਸਥਿਰ ਹੈ, ਅਤੇ ਵਿਰੋਧੀ ਦਖਲਅੰਦਾਜ਼ੀ ਮਜ਼ਬੂਤ ਹੈ
5. ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਜਾਂਚ ਪੋਜੀਸ਼ਨਿੰਗ ਡਿਵਾਈਸ, ਲੇਜ਼ਰ ਸਪਾਟ ਅਲਾਈਨਮੈਂਟ ਐਡਜਸਟਮੈਂਟ ਬਹੁਤ ਆਸਾਨ ਹੈ
6. ਸਿੰਗਲ-ਐਕਸਿਸ ਡਰਾਈਵ ਦਾ ਨਮੂਨਾ ਆਟੋਮੈਟਿਕ ਹੀ ਜਾਂਚ ਦੇ ਕੋਲ ਲੰਬਕਾਰੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਪਹੁੰਚ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਜੋ ਸੂਈ ਦੀ ਨੋਕ ਨੂੰ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਲੰਬਵਤ ਸਕੈਨ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕੇ
7. ਮੋਟਰ-ਨਿਯੰਤਰਿਤ ਦਬਾਅ ਪਾਈਜ਼ੋਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਸਿਰੇਮਿਕ ਆਟੋਮੈਟਿਕ ਖੋਜ ਦੀ ਬੁੱਧੀਮਾਨ ਸੂਈ ਫੀਡਿੰਗ ਵਿਧੀ ਜਾਂਚ ਅਤੇ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਰੱਖਿਆ ਕਰਦੀ ਹੈ
8. ਜਾਂਚ ਅਤੇ ਨਮੂਨਾ ਸਕੈਨਿੰਗ ਖੇਤਰ ਦੀ ਸਹੀ ਸਥਿਤੀ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ ਅਤਿ-ਉੱਚ ਵਿਸਤਾਰ ਆਪਟੀਕਲ ਪੋਜੀਸ਼ਨਿੰਗ ਸਿਸਟਮ
9. ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਸਕੈਨਰ ਗੈਰ-ਲੀਨੀਅਰ ਸੁਧਾਰ ਉਪਭੋਗਤਾ ਸੰਪਾਦਕ, ਨੈਨੋਮੀਟਰ ਅੱਖਰਕਰਨ ਅਤੇ ਮਾਪ ਸ਼ੁੱਧਤਾ 98% ਤੋਂ ਬਿਹਤਰ
ਨਿਰਧਾਰਨ:
| ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਮੋਡ | ਟੱਚ ਮੋਡ, ਟੈਪ ਮੋਡ |
| ਵਿਕਲਪਿਕ ਮੋਡ | ਫਰੀਕਸ਼ਨ/ਲੈਟਰਲ ਫੋਰਸ, ਐਪਲੀਟਿਊਡ/ਫੇਜ਼, ਮੈਗਨੈਟਿਕ/ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਸਟੈਟਿਕ ਫੋਰਸ |
| ਫੋਰਸ ਸਪੈਕਟ੍ਰਮ ਕਰਵ | FZ ਫੋਰਸ ਕਰਵ, RMS-Z ਕਰਵ |
| XY ਸਕੈਨ ਰੇਂਜ | 50*50um, ਵਿਕਲਪਿਕ 20*20um, 100*100um |
| Z ਸਕੈਨ ਰੇਂਜ | 5um, ਵਿਕਲਪਿਕ 2um, 10um |
| ਸਕੈਨ ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ | ਹਰੀਜ਼ੱਟਲ 0.2nm, ਵਰਟੀਕਲ 0.05nm |
| ਨਮੂਨਾ ਆਕਾਰ | Φ≤68mm, H≤20mm |
| ਨਮੂਨਾ ਪੜਾਅ ਯਾਤਰਾ | 25*25mm |
| ਆਪਟੀਕਲ ਆਈਪੀਸ | 10 ਐਕਸ |
| ਆਪਟੀਕਲ ਉਦੇਸ਼ | 5X/10X/20X/50X ਯੋਜਨਾ ਅਪੋਕ੍ਰੋਮੈਟਿਕ ਉਦੇਸ਼ |
| ਰੋਸ਼ਨੀ ਵਿਧੀ | LE ਕੋਹਲਰ ਲਾਈਟਿੰਗ ਸਿਸਟਮ |
| ਆਪਟੀਕਲ ਫੋਕਸਿੰਗ | ਮੋਟਾ ਮੈਨੁਅਲ ਫੋਕਸ |
| ਕੈਮਰਾ | 5MP CMOS ਸੈਂਸਰ |
| ਡਿਸਪਲੇ | ਗ੍ਰਾਫ ਸੰਬੰਧੀ ਮਾਪ ਫੰਕਸ਼ਨ ਦੇ ਨਾਲ 10.1 ਇੰਚ ਫਲੈਟ ਪੈਨਲ ਡਿਸਪਲੇ |
| ਸਕੈਨ ਦੀ ਗਤੀ | 0.6Hz-30Hz |
| ਸਕੈਨ ਕੋਣ | 0-360° |
| ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਵਾਤਾਵਰਣ | ਵਿੰਡੋਜ਼ ਐਕਸਪੀ/7/8/10 ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਸਿਸਟਮ |
| ਸੰਚਾਰ ਇੰਟਰਫੇਸ | USB2.0/3.0 |
